产品介绍：
用于微米级表面尺寸光学反射率，薄膜厚度及膜层材料光学参数（n&k）的快速测量。可以在0.1秒钟内同时获取单层薄膜厚度和材料光学参数。该仪器可用于各种环境、如实验室、工厂生产线及野外的实时测量。
关键优势：
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小光斑：测量光斑直径从5μm到100μm
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测速快：单点测量时间小于0.1秒
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精度高：反射率精度0.1%，膜厚精度达0.2nm
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波长范围：350nm至1000nm，1000nm至1700nm
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小型便捷：重量2.8公斤，USB连接计算机，软件易学好用
应用领域：
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光学镀膜：镜片增透膜、高反膜、分光膜测量
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医疗器件：内窥镜镜片反射率、内聚对二甲苯保护层、医疗器械表面涂层测量
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半导体制造：二氧化硅（SiO2）、氮化硅（Si3N4）、ITO（氧化铟锡）、有机发光层、聚酰亚胺（PI）、光刻胶厚度测量
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太阳能电池：氮化硅减反射膜、氧化铝钝化层测量
产品规格：
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参数
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技术指标
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测量内容
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反射率，膜层厚度及光学常数（n&k）
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光斑尺寸
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5μm，10μm，50μm，80μm，100μm
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膜厚范围
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15nm至100μm，精度为0.2nm
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测量时间
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单点测量时间小于0.1秒
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光谱范围
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350nm至1000nm，1000nm至1700nm
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样品尺寸
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1mm至100mm
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仪器重量
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2.8公斤
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仪器尺寸
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29 x 23 x 25cm
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数据处理
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USB数据传输，配套软件Film_Analyzer
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操作系统
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Windows10及以上系统
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电源
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100-240 VAC，50/60Hz，0.4A
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